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Digitales optisches Mikroskopsystem zur umfassenden Höhenmessung
85.000,00 $
1 Satz
80.000,00 $
2+ Sätze
Produktspezifikationen
Laserlinsenmodell
Laserlinsenbereich/μm
z-Achsenauflösung/nm
Produktprofil
Anpassung
VerfügbarKundendienst
Online-VideounterstützungGarantie
1 JahreModell Nr.
KC-X3000Fokus auf den Bewegungsbereich der z-Achse
100mmFokus Z-Achse Antriebsmodus
MotorKamerauflösung messen
1200WKamera maximale fps messen
28fpscpu
intel i7Interner Speicher
32GBSpeichern
1TB ssdBildschirmauflösung
3840×2160Anzeigegröße
27inchesUmgebungstemperatur bei Betrieb
LuftfeuchtigkeitLuftfeuchtigkeit
5%~80%rh,no KondensationTransportpaket
KartonSpezifikation
AngepasstWarenzeichen
kathmatischHerkunft
ChinaHauptmerkmale
Ein integriertes 3-in-1-Design, das drei Kernfunktionen vereint: morphologische Scans, hochauflösende Bildsynthese und Bildverknüpfung sowie 3D-Fusionsmessung in einem Gerät.
Es kann mehrere Geräte ersetzen, darunter optische Profilometer, Mikroskope mit großer Tiefenschärfe, Konturmessgeräte und Messmikroskope, wodurch die Kosten für die Beschaffung von Geräten und den benötigten Platz erheblich reduziert werden.
Es verwendet eine lasergestützte konfokale Scantechnologie ohne physischen Kontakt und ohne Druck während der Messung, wodurch Kratzer, Verformungen oder Verunreinigungen an den Proben vermieden werden.
Kompatibel mit empfindlichen Materialien wie Siliziumwafern, Dünnschichten, geschäumtem Kupfer und 3D-gedruckten Teilen, um zerstörungsfreie Prüfungen zu ermöglichen.
Geeignet für Proben mit Mikrometer-Rauheit, Millimeter-Mikrostruktur und metergenauer geometrischer Toleranz.
Neue visuelle Auswahllfunktion mit globaler Navigationskamera, die eine freie Umschaltung zwischen Navigations- und Messansicht ermöglicht. Mit einem Klick können große Flächen oder kleine lokale Scanbereiche ausgewählt werden.
Das synchrone Fokussierdesign für Objektiv und Laser ermöglicht eine automatische Kollisionsvermeidung, beschleunigt das Fokussieren erheblich und verbessert die Gesamteffizienz der Prüfung um mehr als 50 %.
Erzeugt 3D-Punktwolkenmodelle in True-Color- oder Pseudo-Color-Darstellung. Mit einem Klick können CSV-, Excel- und PDF-Berichte sowie Rohdaten der Punktwolke für die Rückverfolgbarkeit exportiert werden.
Eine umfassende, intelligente Analyse-Software mit vollständigen 2D- und 3D-Messwerkzeugen, die die Batch-Berechnung von planaren Dimensionen, Konturprofilen, Höhenunterschieden, Volumen/Fläche und Oberflächenrauheit unterstützt.
Kompatibel mit verschiedenen Materialien, darunter transparentes Glas, Metalle, Schaumstoffe, Polymere, Halbleiterwafer und Keramiken.
Unternehmensprofil
ZertifiziertUnternehmensart: Hersteller/Werk & Handelsunternehmen ZertifiziertF&E-Kapazität: ODM-Dienst verfügbar ZertifiziertAnpassungsoptionen: Anpassung anhand von Beispielen, Anpassung durch Designs, etc. ZertifiziertNächster Hafen: Shanghai PortDurchschnittliche Reaktionszeit: ≤9.29h
Über unsere Fabrik & Unternehmenshintergrund
Die AnschriftFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Blumenbeet3580 Quadratmeter
Anzahl der Angestellten294
Stammkapital10,000,000 RMB
Durchschnittliche LieferzeitVorlaufzeit In Der Hauptsaison: 1-3 Monate, Vorlaufzeit Außerhalb Der Saison, 1-3 Monate
Lieferkettenpartner51
Unsere Produktionskapazität & technische Expertise
HauptprodukteDigitale Mikroskope, optisches Mikroskop, 3D Mikroskop, Lasermikroskop, Profiler, konfokale Mikroskopie, Weißlichtinterferometer, Laser-Doppler-Vibrometer, berührungsloser Rauheitsprüfer, Doppler-Vibrometer
Produktionslinien4
ProduktionsmaschinenCNC Centre
QA/QC-Inspektoren8 people
Prüfart für Fertigerzeugnisse100% Inspektion(Visuelle Inspektion & Funktionsprüfung)
Prüfverfahren für FertigprodukteAnweisungen haben und einheitlich befolgt
R&D Ingenieure56 people
Rückverfolgbarkeit von RohstoffenJawohl
Unsere Branchenerfahrung & globale Geschäftsleistung
HauptmärkteNordamerika, Südamerika, Osteuropa, Südostasien, Afrika, Ozeanien, Mittlerer Osten, Ostasien, Westeuropa
Neue Produkteinführungen im letzten JahrJawohl
Unsere Zertifizierungen, Standards & Branchenaneerkennung
Zertifizierung des ManagementsystemsISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Andere
Produkt Q&A
Q:Welche Projekte können mit KC getestet werden?
A:
3D-Morphologie, Länge/Winkel/Radius/Mittelabstand, Tiefe/Stufe, Kontur, Rauheit (Ra/Rz/Sa/Sz), Ebenheit, Volumen/Fläche, Fehlererkennung, automatische Berichtserstellung. Unterstützung der parallelen Analyse mehrerer Geräte, paralleles Scannen und Verarbeiten, wodurch die Effizienz verdoppelt wird.
Q:Welche Proben können mit KC getestet werden?
A:
Metalle, Graphit, Wafer, Glas-Leiterplatten, Kupferpads, geätzte Strukturen, Batterielektroden, geschliffene Teile, Bruchflächen, transparente Materialien, poröse Materialien und weiche Materialien können alle getestet werden. Vereinbaren Sie gerne einen Termin für spezifische Testanforderungen und Probenprüfungen, um die Ergebnisse zu sehen.
Q:Was ist der Unterschied zwischen KC und herkömmlichen Mikroskopen und Profilometern?
A:
Herkömmliche Mikroskope können nur beobachten; ein Profilometer kann die Probe zerkratzen; das KC-X3000 ist ein Komplettmesssystem für kontaktlose, 3D-Morphologie-, Größen-, Rauheits- und Ebenheitsmessungen mit Nanometergenauigkeit und ohne Beschädigung der Probe.
Q:Was ist das KC-X3000?
A:
Das KC-X3000 ist ein hochpräzises Messmikroskop, das von Kathmatic entwickelt wurde und Morphologiescanning, Beobachtung mit extrem großer Tiefenschärfe und Fusionsmessung integriert. Es verwendet spektrale konfokale Technologie, um kontaktlose, hochpräzise 3D-Mikroskopiemessungen zu ermöglichen.
Q:Das KC-X3000, ein hochpräzises Messmikroskop, was bedeuten die spezifischen Funktionen von "drei in einem"?
A:
Das Gerät integriert drei Kernfunktionen: Morphologiescanning, Beobachtung mit extrem großer Tiefenschärfe und Fusionsmessung. Ein Gerät kann herkömmliche 3D-Profilometer, Mikroskope mit extrem großer Tiefenschärfe und Konturmessgeräte ersetzen und ermöglicht integrierte Beobachtungs-, Scan- und Messvorgänge.
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Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
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