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Dreidimensionale automatisierte optische Inspektionsmikroskop-Analyseinstrumente zur Oberflächenfehlererkennung
42.000,00 $
1 Satz
40.000,00 $
2+ Sätze

Produktspezifikationen

Objektivlinsenmodell

Multiplikatorenauswahl

Plattformkomponenten

Produktprofil

Anpassung

Verfügbar

Kundendienst

Online-Videounterstützung

Garantie

1 Jahre

Modell Nr.

KS-X5000P

z-Achsen-Antriebweg

50mm

Mindestschrittgenauigkeit

0.1μm

Bildsensor

25 Millionen hochauflösende Pixel

Hauptsteuerrechner

intel i7 Hochleistungsprozessor

Betriebsspeicher

64gb großer Speicher

Datenspeicherung

1tb SSD Hochgeschwindigkeits-Solid-State-Laufwerk

Unabhängige Grafikkarte

rtx3060 professionelle Grafikkarte

Anzeigegerät

27-inch 4k ultra klarer Bildschirm, Auflösung 3840×2160

Betriebstemperatur

5℃-40℃

Luftfeuchtigkeit bei Betrieb

5%-80% rh, keine Kondensation

Stromversorgung

ausgestattet mit einer industriellen, stabilen Stromversorgung

Transportpaket

Karton

Spezifikation

Angepasst

Warenzeichen

kathmatisch

Herkunft

China

Hauptmerkmale

Ausgestattet mit einem vollständig modernisierten optischen Bildgebungssystem, werden Synthese- und Zusammensetzungsalgorithmen synchron optimiert.
Vier wichtige Bildgebungsmerkmale wurden im Vergleich zu herkömmlichen Mikroskopen erheblich verbessert, darunter optische Auflösung, Farbwiedergabe, Leistung bei der Mehrfachlicht-Bildgebung und Pixeldarstellung.
Mikrostrukturen, metallografische Strukturen und winzige Kratzer können klar und ohne Verzerrung oder Farbverfälschung dargestellt werden.
Die Funktion zur Tiefen-Synthese mit extrem großer Schärfentiefe (Ultra DOF) erfasst mehrschichtige Bilder innerhalb eines anpassbaren Z-Achsenbereichs, zeichnet Höheninformationen auf und synthetisiert anschließend vollständige, scharf fokussierte, echtfarbige Punktwolkenbilder.
Es unterstützt die 3D-Messung von Lötnaht-Höhe, BGA-Kontaktpunkt-Höhe, Profil, Volumen, Oberflächenrauheit und Höhenunterschied und erzeugt Pseudo-Farb-Höhenwolkenkarten.
Integriert 7 verschiedene Beleuchtungsmodi: koaxiale Beleuchtung, Ringlicht, Seitenlicht, Bottom-Transmission, Polarisationslicht, DIC-Differentialinterferenzlicht und Vierfarbenlicht.
Verschiedene Lichtquellen passen sich an glatte Wafer, diffuse Metalle, transparente Kristalle, Spannungsstrukturen und Mikrokratzer an, um versteckte Defekte effektiv aufzudecken.
Unterstützt 2D-Planar-Zusammensetzung und 3D-Tiefen-Zusammensetzung, wobei die maximale Anzahl der zusammengesetzten Pixel über 10 Milliarden beträgt.
Ein integriertes Echtzeit-Fokus-Vorschaufenster zeigt die relative Position zwischen Objektiv und Probe an und verfügt über eine Kollisionswarnlinie, wodurch die Beobachtung der Seitenwände vereinfacht wird.
Vollständige 2D- und 3D-Messfunktionen. Die 3D-Messung umfasst Höhenunterschied, Profil, Volumen und Oberflächenrauheit (Ra/Sa). Alle Messdaten können in Tabellen exportiert werden.

Unternehmensprofil

Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Management-ZertifizierungStandardisierte QualitätskontrollePatente erteiltF&E-Fähigkeiten
ZertifiziertUnternehmensart: Hersteller/Werk & Handelsunternehmen ZertifiziertF&E-Kapazität: ODM-Dienst verfügbar ZertifiziertAnpassungsoptionen: Anpassung anhand von Beispielen, Anpassung durch Designs, etc. ZertifiziertNächster Hafen: Shanghai PortDurchschnittliche Reaktionszeit: ≤8.57h

Über unsere Fabrik & Unternehmenshintergrund

Die AnschriftFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Blumenbeet3580 Quadratmeter
Anzahl der Angestellten294
Stammkapital10,000,000 RMB
Durchschnittliche LieferzeitVorlaufzeit In Der Hauptsaison: 1-3 Monate, Vorlaufzeit Außerhalb Der Saison, 1-3 Monate
Lieferkettenpartner51

Unsere Produktionskapazität & technische Expertise

HauptprodukteDigitale Mikroskope, optisches Mikroskop, 3D Mikroskop, Lasermikroskop, Profiler, konfokale Mikroskopie, Weißlichtinterferometer, Laser-Doppler-Vibrometer, berührungsloser Rauheitsprüfer, Doppler-Vibrometer
Produktionslinien4
ProduktionsmaschinenCNC Centre
QA/QC-Inspektoren8 people
Prüfart für Fertigerzeugnisse100% Inspektion(Visuelle Inspektion & Funktionsprüfung)
Prüfverfahren für FertigprodukteAnweisungen haben und einheitlich befolgt
R&D Ingenieure56 people
Rückverfolgbarkeit von RohstoffenJawohl

Unsere Branchenerfahrung & globale Geschäftsleistung

HauptmärkteNordamerika, Südamerika, Osteuropa, Südostasien, Afrika, Ozeanien, Mittlerer Osten, Ostasien, Westeuropa
Neue Produkteinführungen im letzten JahrJawohl

Unsere Zertifizierungen, Standards & Branchenaneerkennung

Zertifizierung des ManagementsystemsISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Andere

Produkt Q&A

Q:Kann die KS-Serie Fehleranalysen durchführen? Können hochauflösende mikroskopische Bilder aufgenommen werden?
A:
Absolut möglich. Zoom von 20 bis 9000-fach, scharfer Fokus, 3D-Morphologie, Rauheitsmessung, geeignet für die Analyse von Rissen, Kratzern, Korrosion, Verschleiß und Materialmikrostrukturen. Es können hochauflösende Bilder und Messberichte exportiert werden.
Q:Was ist der Unterschied zwischen der "Super-Tiefenschärfe"-Funktion der KS-Serie und der KM-Serie?
A:
Die KS-Serie ist ein reines Tiefenschärfen-Mikroskop mit höherer Vergrößerung (20-9000-fach) und detaillierteren Beobachtungsmöglichkeiten, geeignet für Mikrostrukturen, Fehleranalysen und wissenschaftliche Forschung. Die KM-Serie ist eine integrierte Lösung mit fünf Funktionen, wobei die "Super-Tiefenschärfe" eine davon ist. Sie berücksichtigt 2D-/3D-Darstellungen und Filmdicken und ist für die industrielle Qualitätskontrolle in großen Stückzahlen konzipiert, wobei der Schwerpunkt auf Effizienz liegt.
Q:Kann ein Mikroskop mit "Super-Tiefenschärfe" die Linienbreite bei der PI-Lithografie-Entwicklung messen?
A:
Sehr geehrte/r Interessent/in, vielen Dank für Ihr Interesse an unserem Produkt! Das Mikroskop mit "Ultra-Tiefenschärfe" verfügt über hochpräzise Messfunktionen und kann verschiedene mikroskopische Beobachtungsanforderungen erfüllen. Unser Produkt verfügt über die entsprechenden Messfunktionen zur Messung der Linienbreite bei der PI-Lithografie-Entwicklung. Gerne steht Ihnen unser Fachteam für weitere detaillierte Informationen und technischen Support zur Verfügung.
Q:Kann ein 3D-Digitalmikroskop Verschleißschäden an Fräswerkzeugen beobachten?
A:
Sehr geehrte/r Interessent/in, unser 3D-Digitalmikroskop bietet hervorragende Leistung bei der Beobachtung von Verschleißschäden an Fräswerkzeugen und liefert hochauflösende und detaillierte Bilder, um Ihnen bei der genauen Bestimmung des Verschleißzustands von Fräswerkzeugen zu helfen. Darüber hinaus zeichnen sich unsere Produkte durch Benutzerfreundlichkeit und Stabilität aus und können Ihre vielfältigen Beobachtungsanforderungen erfüllen. Gerne steht Ihnen unser Fachservice-Team für weitere Informationen zur Verfügung.
Q:In welchen Bereichen können 3D-Digitalmikroskope eingesetzt werden?
A:
3D-Digitalmikroskope finden in verschiedenen Bereichen breite Anwendung. Im Bereich der Materialwissenschaft werden sie zur Analyse der Mikrostruktur und Eigenschaften von Materialien eingesetzt. Sie werden in Branchen wie intelligenter Fertigung, Luft- und Raumfahrt, 3C-Elektronik, Halbleiter, Automobilindustrie, erneuerbare Energien, neue Materialien, medizinische Pharmazeutika usw. eingesetzt. In welchem spezifischen Bereich möchten Sie mehr über ihre Anwendung erfahren?

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